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盤點(diǎn)光學(xué)膜厚測量儀的八個(gè)功能光學(xué)膜厚測量儀采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀，原則上...

光學(xué)膜厚測量儀能夠避免前期的樣品處理，甚至是不需要樣品來進(jìn)行試樣工作。傳統(tǒng)的測厚儀，在測量物件時(shí)，需要進(jìn)行樣品的處理，使樣品與被測量物件一致，在測量時(shí)直接應(yīng)用于樣品測量。而儀器的使用是直接應(yīng)用于被測量物體。這樣的一個(gè)過程便為我們節(jié)省了不少的...

3D光學(xué)輪廓儀是一種用于材料科學(xué)、電子與通信技術(shù)領(lǐng)域的分析儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面...

XRF手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素，同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過測量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術(shù)就能測定物質(zhì)的元素構(gòu)成。下...

光學(xué)薄膜厚度測量儀利用X射線穿透被測材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量儀器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，對板材厚度進(jìn)行自動(dòng)控制。光...

光學(xué)3d表面輪廓儀不僅僅是用于零部件的檢測，還有一種可用于生產(chǎn)線上對生產(chǎn)中的軋材表面缺陷進(jìn)行檢測的設(shè)備，它以激光檢測原理完成了缺陷尺寸的在線檢測。光學(xué)3d表面輪廓儀通過對被測物進(jìn)行缺陷檢測，實(shí)現(xiàn)了被測物件的在線連續(xù)式缺陷檢測，及時(shí)的防止帶缺...