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- iMicroKLA 納米力學(xué)測(cè)試儀
iMicro為壓痕、硬度、劃痕測(cè)試和多元化納米級(jí)測(cè)試等納米級(jí)力學(xué)測(cè)試設(shè)計(jì)。iMicro具有多量程加載驅(qū)動(dòng)器，實(shí)現(xiàn)在寬泛的荷載和位移的范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量。iMicro能夠測(cè)試包括軟質(zhì)高聚物到硬質(zhì)涂層和薄膜等在內(nèi)的多種材料。模塊化系統(tǒng)選項(xiàng)可以完成各種不同應(yīng)用：特定頻率測(cè)試、定量劃痕和磨損測(cè)試、集成探針成像、高溫測(cè)試和自定義方法編程等
- 型號(hào)：iMicro
- 更新日期：2024-07-24 ￥59
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- iNanoKLA 納米壓痕儀
iNano 納米壓痕儀可輕松測(cè)量薄膜、涂層和少量材料。 該儀器準(zhǔn)確、靈活，并且用戶(hù)友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等多種納米級(jí)機(jī)械測(cè)試。 該儀器的力荷載和位移測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍很大，因而可以實(shí)現(xiàn)從軟聚合物到金屬材料的精確和可重復(fù)測(cè)試。 模塊化選項(xiàng)適用于各種應(yīng)用：材料性質(zhì)分布、特定頻率測(cè)試、刮擦和磨損以及高溫測(cè)試。 iNano提供了一整套測(cè)試擴(kuò)展選項(xiàng)，包括樣品加熱、連續(xù)剛度測(cè)量、NanoBl
- 型號(hào)：iNano
- 更新日期：2024-07-24 ￥59
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