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高性能X射線熒光分析儀的分析技術(shù)目前已在地質(zhì)、冶金、材料、環(huán)境等無(wú)機(jī)分析領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用，是各種無(wú)機(jī)材料中主組分分析重要的技術(shù)手段之一，各種與X射線熒光光譜相關(guān)的分析技術(shù)，如同步輻射XRF、全反射XRF光譜技術(shù)等，在痕量和超痕量分析中發(fā)...

高性能X射線熒光分析儀既可用于材料的組成成分分析,也適用于固體粉末、晶體、薄膜、液體等樣品的分析。根據(jù)樣品分別選配石英池（液體樣品）或固體樣品架（粉末或片狀樣品）。儀器主要由激發(fā)源(X射線管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。高性能X射線熒光分析儀具有強(qiáng)大的...

薄膜厚度測(cè)量?jī)x又稱(chēng)為覆層測(cè)厚儀，原理以及應(yīng)用如下：一、薄膜厚度測(cè)量?jī)x原理磁性測(cè)厚原理：當(dāng)測(cè)頭與覆層接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測(cè)量其變化可計(jì)算覆蓋層的厚度。渦流測(cè)厚原理：利用高頻交電...

實(shí)驗(yàn)室的工作追求的是性，可是環(huán)境振動(dòng)源的影響很容易成為一個(gè)問(wèn)題，一些實(shí)驗(yàn)可能由于輕微振動(dòng)的影響而無(wú)法獲得的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。主動(dòng)式減震系統(tǒng)就是為了解決這一問(wèn)題產(chǎn)生的，它采用主動(dòng)或被動(dòng)的隔振措施隔離振動(dòng)，提供水平、穩(wěn)定的臺(tái)面。實(shí)驗(yàn)或測(cè)量不受振動(dòng)因素。...

XRF鍍層測(cè)厚儀結(jié)構(gòu)新穎、體積小、重量輕、可靠。由于采用機(jī)電一體結(jié)構(gòu)，整機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)平穩(wěn)，無(wú)振動(dòng)，操作簡(jiǎn)單，實(shí)驗(yàn)速度快，降低勞動(dòng)強(qiáng)度。它是一種對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測(cè)量的儀器，測(cè)量的對(duì)象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等。...

光學(xué)表面輪廓儀利用激光檢測(cè)技術(shù)的基本原理，在型材的一道工序代替人工檢測(cè)，鋼材表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)不僅可以實(shí)時(shí)對(duì)鋼材表面缺陷檢測(cè)，還能提供數(shù)據(jù)庫(kù)管理缺陷以及鋼板其他信息，為管理人員提供方便的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)及存儲(chǔ)查詢(xún)等功能，輔助進(jìn)行鋼材質(zhì)量管理工作。輪廓...