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-Filmetrics光學膜厚測量儀：不論您是想要知道薄膜厚度、光學常熟，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果?；谀衬K化設(shè)計的特點，F(xiàn)20適用于各種應(yīng)用：

型號：F20

更新日期：2024-07-24

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-Filmetrics膜厚測量儀：以真空鍍膜為設(shè)計目標，F(xiàn)10-RT 只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜。 只需傳統(tǒng)價格的一小部分，用戶就能進行低/高分析、確定 FWHM 并進行顏色分析。 可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用 Filmetrics F10 的分析能力。測量結(jié)果能被快速地導出和打印。

型號：F10-RT

更新日期：2023-06-05

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-Filmetrics膜厚測量儀：以F20平臺為基礎(chǔ)所發(fā)展的F10-HC薄膜測量系統(tǒng)，能夠快速的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測量厚度，加上F10-HC軟件的模擬演算法的設(shè)計，能夠在厚膜中測量單層與多層（例如：底漆或硬涂層等）。

型號：F10-HC

更新日期：2023-06-05

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Filmetrics膜厚測量儀:F10-AR 是為簡便而經(jīng)濟有效地測試眼科減反涂層設(shè)計的儀器。 雖然價格大大低于當今絕大多數(shù)同類儀器，應(yīng)用幾項技術(shù)， F10-AR 使線上操作人員經(jīng)過幾分鐘的培訓，就可以進行厚度測量。

型號：F10-AR

更新日期：2023-06-05

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Filmetrics薄膜厚度測量儀：F3-sX系列膜厚測量儀利用光譜反射原理，可以測試眾多半導體及電解層的厚度，可測大厚度達3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均勻，F(xiàn)3-sX系列配置10微米的測試光斑直徑因而可以快速容易的測量其他膜厚測試儀器不能測量的材料膜層。而且僅在幾分之一秒內(nèi)完成。

型號：F3-sX系列

更新日期：2023-08-25

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Film Sense FS-1多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器，可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現(xiàn)快速和可 靠地薄膜測量。大多數(shù)厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要簡單的 1 秒測量，就 可以獲得非常精密和的數(shù)據(jù)。

型號：Film Sense FS-8

更新日期：2025-04-27

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Filmetrics 光學膜厚測量儀測厚儀 嵌入式在線診斷 免費離線分析軟件 精細的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效的存儲，重現(xiàn)與繪制測量結(jié)果

型號：F37

更新日期：2024-08-08

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Filmetircs 光學膜厚測量儀 滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測試系統(tǒng)，如需了解更多 光學膜厚測量儀膜厚測試儀 F3-sX 信息，咨詢。

型號：F3-sX

更新日期：2023-08-25

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